三坐標測量儀簡稱CMM，自六十年代中期首台三坐標測量儀問世以來，隨著計算機技術的進步以及電子控製係統、檢測技術的發展，為測量機向高精度、高速度方向發展提供了強有力的技術支持。

CMM按測量方式可分為接觸測量和非接觸測量以及接觸和非接觸並用式測量，接觸測量常於測量機械加工產品以及壓製成型品、金屬膜等。本文以接觸式測量機為例來說明幾種掃描物體表麵，以獲取數據點的幾種方法，數據點結果可用於加工數據分析，也可為逆向工程技術提供原始信息。掃描指借助測量機應用軟件在被測物體表麵特定區域內進行數據點采集。此區域可以是一條線、一個麵片、零件的一個截麵、零件的曲線或距邊緣一定距離的周線。掃描類型與測量模式、測頭類型及是否有CAD文件等有關，狀態按紐（手動/DCC）決定了屏幕上可選用的“掃描”（SCAN）選項。若用DCC方式測量，又具有CAD文件，那麽掃描方式有“開線”（OPEN LINEAR）、“閉線”（CLOSED LINEAR）、“麵片”（PATCH）、“截麵”（SECTION）及“周線”（PERIMETER）掃描。若用DCC方式測量，而隻有線框型CAD文件，那麽可選用 “開線”（OPEN LINEAR）、“閉線”（CLOSED LINEAR）和“麵片”（PATCH）掃描方式。若用手動測量模式，那麽隻能用基本的“手動觸發掃描”（MANUL TTP SCAN）方式。若在手動測量方式，測頭為剛性測頭，那麽可用選項為“固定間隔”（FIXED DELTA）、“變化間隔”（VARIABLE DELTA）、“時間間隔”（TIME DELTA）和“主體軸向掃描”（BODY AXIS SCAN）方式。花季传媒入口网站

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